近年來，越來越多的零部件廠商導(dǎo)入清潔度檢測設(shè)備，由于操作人員普遍缺乏規(guī)范操作的培訓(xùn)或?qū)η鍧嵍葘嶒灡容^陌生，通常的做法是按照上游廠商提供的操作規(guī)范來執(zhí)行。如果上游廠商也缺乏相應(yīng)的規(guī)范或作業(yè)指導(dǎo)，實驗如何開展則比較困惑。

其實在ISO16232和VDA19標(biāo)準(zhǔn)中有參考清潔度試驗項目——衰減實驗（遞減實驗），該實驗提供了可操作性強的流程來確定顆粒萃取方法是否合適。簡單描述如下：

1.選擇一組萃取參數(shù)，針對同一個零部件依次進行六次萃取，記錄每次的清潔度數(shù)據(jù)。

2.在某一次數(shù)據(jù)與之前數(shù)據(jù)總和的比值低于10%時（顆粒總數(shù)和重量），則證明萃取參數(shù)是合理的。

3.六次實驗結(jié)束，數(shù)據(jù)依然無法滿足比值10%要求，則需要變更萃取參數(shù)，重復(fù)實驗。

4.最后獲得的參數(shù)，還需經(jīng)過重復(fù)驗證測試，才能納入清洗工藝參數(shù)。

以某零部件為例簡單介紹衰減實驗流程：

實驗中使用到的設(shè)備：清潔度萃取設(shè)備、清潔度分析顯微鏡、天平、烘箱等。

實驗數(shù)據(jù)

以某零部件采用重量分析法為例（數(shù)據(jù)如上圖），每次采用1L清洗劑進行對同一零部件進行沖洗，可以看到在進行第四次萃取時數(shù)據(jù)滿足衰減標(biāo)準(zhǔn)≤10%原則，說明該零部件需要用(n-1)*1L=3L清洗量來進行殘留顆粒萃取時合理的。同樣的方式也適用于顆粒計數(shù)分級。